謝仲業 博士，講師 辦公室：8A203 Email:xiezy@dgut.edu.cn

一、教育背景

2010.09－2014.07  西南交通大學，機械設計制造及其自動化專業，本科畢業

2015.09－2020.07  中科院光電技術研究所，測試計量技術及儀器專業，博士畢業（碩博連讀）

 

二、工作經曆

2014.07－2015.05  航天科工第十研究院，助理工程師

2020.07－2021.04  中車株洲電力機車研究所有限公司，工程師

2021.04－至今    東莞理工學院，講師

 

三、澳门金莎

2021年起在東莞理工學院，主要講授的課程有：C++程序設計及應用

 

四、主持的教學研究項目

無

 

五、澳门金莎

主要從事光學微納結構檢測，結構光3D精密測量等方面的研究。

（一）主持研究項目

1．調制度測量方法在複雜微納結構檢測中的應用研究，四川省科技創新創業項目，2018-2019，10萬

 

（二）發表的學術論文和著作

1. XIE Z, TANG Y, FENG J, et al. Accurate surface profilometry using differential optical sectioning microscopy with structured illumination [J]. 2019, Optics Express, 27(8):11721-11733.

2. XIE Z, TANG Y, He Y, et al. Fast structured illumination microscopy with reflectance disturbance resistibility and improved accuracy [J]. 2019, Optics Express, 27(15):21508-21519.

3. XIE Z, TANG Y, ZHOU Y, et al. Surface and thickness measurement of transparent thin-film layers utilizing modulation-based structured-illumination microscopy[J]. Optics Express, 2018, 26(3):2944-2953.

4. XIE Z, HU S, TANG Y, et al. 3D Super-resolution Reconstruction Using Microsphere-assisted Structured Illumination Microscopy[J]. IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 31(22):1041-1135.

5. XIE Z, TANG Y, WEI H, et al. Optical sectioning microscopy for multilayer structure with micro-scale air gaps measurement[J]. IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 31(2):141-144.

6. XIE Z, TANG Y, LIU X, et al. Profilometry With Enhanced Accuracy Using Differential Structured Illumination Microscopy[J]. IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 31(13):1041-1135.

7. XIE Z, TANG Y, ZHOU Y, et al. Application of Two-dimensional Fourier Transform in Structured-illumination Microscopy[c]. Procee7.dings of 2017 2nd International Seminar on Applied Physics, Optoelectronics and Photonics, 2017.

8. XIE Z, TANG Y, LIU X, et al. Fast thickness measurement of thin films using two-dimensional Fourier transform-based structured illumination microscopy[c]. Proc. SPIE 10841, 9th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Meta-Surface-Wave and Planar Optics, 2018, 10841(05).

9. LIU L, TANG Y, XIE Z, et al. Fast surface profilometry utilizing structured illumination microscopy based on the time-domain phase-shift technique[J]. Applied optics, 2019, 58(30):8180-8186.

10. LIU L, HU S, TANG Y, XIE Z, et al. Efficient Profilometry Using Tilted Grating Scanning Structured Illumination Microscopy[J]. IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 1141-1135.

 

六、獲獎與榮譽

1. 中科院院長優秀獎，2020

 

七、指導研究生

無